华侨大学 LJ--Home-- Mueller Matrix Ellipsometric Characterization of Nanoscale Subsurface Damage of 4H-SiC Wafers: From Grinding to CMP

Doctoral Degree in Engineering

博士研究生

Personal Information

Professor Supervisor of Doctorate Candidates

Academic Titles:厦门市光电材料加工重点实验室副主任

Education Level:博士研究生

Degree:Doctoral Degree in Engineering

School/Department:制造工程研究院

E-Mail:

Other Post:国际磨粒加工委员会（ICAT）青年委员，中国机械工程学会生产工程分会光整加工专业委员会理事，稀土抛光材料与界表面调控加工技术专业委员会副主任委员，福建省机械工程学会标准委员会委员